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Lab interior view - New materials, manufacturing methods and specific production processes take centre stage Show image information

Lab interior view - New materials, manufacturing methods and specific production processes take centre stage

Photo: Photo Pietrek / Design Dohmeier-Fischer, UPB

Nanostrukturierungs-Rakel

Herstellung von selbstorganisierten kolloidalen Nanokugel-Masken auf Festkörperoberflächen durch Bewegung eines Tropfens

Rakelapparatur:

  • Fahrbare Substrathalterung
  • Peltier-Probentisch mit einstellbarer Temperatur
  • Plexiglas-Handschuhbox mit Trockengaseinlass
  • Temperatur- und Luftfeuchte-Überwachung
  • Einstellbarer Neigungswinkel der Rakelplatte
  • In-situ Beobachtung mit Lichtmikroskop
  • Rechnergestützte Steuerung

Tensiometer K100SF

Kontaktwinkelmessung an Einzelfasern zur Analyse der Benetzbarkeit

  • Gewichtsmessung: bis 3 g, Auflösung 0.1 µg
  • Probenbühnenposition: Bewegungsbereich 110 mm, Auflösung 0.1 µm, Geschwindigkeit 0.09 - 500 mm/min

Drop Shape Analyzer DSA25E

Optische Messung von statischen und dynamischen Kontaktwinkeln auf Festkörperoberflächen (Methode des ruhenden Tropfen), Bestimmung von Festkörper-Oberflächenenergien und Oberflächenspannungen von Flüssigkeiten (Methode des hängenden Tropfen)

  • Hubtisch (z-Achse)
  • Softwaregesteuerte Doppel-Dosiereinheit
  • Zoom-Objektiv, Kamera (Auflösung 656x492 px)

Transmissionselektronenmikroskopie

Dieser Bereich umfasst Verfahren zur selbstorganisierten Nanostrukturierung und zur Charakterisierung von Oberflächen ebenso wie die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie für hochaufgelöste Abbildung und Analytik.

JEOL JEM-ARM200F: Cs-korrigiertes höchstauflösendes Feldemissions-TEM/STEM

  • Beschleunigungsspannung: 30 - 200 kV
  • Kalte Feldemissionsquelle
  • Beleuchtungsseitiger Cs-Korrektor mit Aberrationskorrektur bis zur 5. Ordnung (CEOS ASCOR)
  • TEM-Punktauflösung: 0,19 nm, Informationsgrenze: 0,11 nm
  • STEM-Punktauflösung: 0,08 nm bei 200 kV, ≤  0,20 nm bei 30 kV
  • Energieauflösung ≤ 0,30 eV (FWHM ZLP)
  • 4k x 4k CMOS-Kamera (Gatan OneView)
  • 2k x 2k CCD-Kamera (Gatan UltraScan)
  • STEM BF-, ABF-, DF-, und HAADF-Detektoren
  • 8-fach segmentierter STEM-DF-Detektor für differenzielle Phasenkontrastabbildung
  • Energiedispersives Röntgenspektroskopie-System mit SDD-Detektor (JEOL)
  • Post-column Energiefilter für EELS, Dual-EELS und EFTEM (Gatan GIF Quantum ER)
  • Einfachkipp- , Weitwinkel- und analytischer Doppelkipp- Probenhalter

Jeol JEM-2000FX

  • Beschleunigungsspannung: 80 - 200 kV
  • Thermionische Elektronenquelle (zur Zeit Wolfram)
  • Punkt-Auflösung ~0,3 nm
  • Probenhalter: Einfachkipp-Halter, 2 Proben, max. Kippung +/- 30°
  • Energiedispersives Röntgenspektroskopie-System: EDAX mit Be-Fenster
  • FastScan CCD-Kamera (TVIPS)

Jeol JSM-6300F SEM

  • FEG-Emitter
  • Beschleunigungsspannung: 0,2 - 30 kV
  • Detektoren für Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen
  • Point-Electronic-Rastersteuerung und Datenaufnahmeeinheit
Contact

Dr. Thomas Riedl

Nanopatterning - Nanoanalysis - Photonic Materials

Phone:
+49 5251 60-2746
Fax:
+49 5251 60-3247
Office:
A4.232

Yannick Lang

Nanopatterning - Nanoanalysis - Photonic Materials

Laboringenieur

Yannick  Lang
Phone:
+49 5251 60-3642
Office:
Y0.226

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