Nanostrukturierungs-Rakel
Herstellung von selbstorganisierten kolloidalen Nanokugel-Masken auf Festkörperoberflächen durch Bewegung eines Tropfens
Rakelapparatur:
- Fahrbare Substrathalterung
- Peltier-Probentisch mit einstellbarer Temperatur
- Plexiglas-Handschuhbox mit Trockengaseinlass
- Temperatur- und Luftfeuchte-Überwachung
- Einstellbarer Neigungswinkel der Rakelplatte
- In-situ Beobachtung mit Lichtmikroskop
- Rechnergestützte Steuerung
Tensiometer K100SF
Kontaktwinkelmessung an Einzelfasern zur Analyse der Benetzbarkeit
- Gewichtsmessung: bis 3 g, Auflösung 0.1 µg
- Probenbühnenposition: Bewegungsbereich 110 mm, Auflösung 0.1 µm, Geschwindigkeit 0.09 - 500 mm/min
Drop Shape Analyzer DSA25E
Optische Messung von statischen und dynamischen Kontaktwinkeln auf Festkörperoberflächen (Methode des ruhenden Tropfen), Bestimmung von Festkörper-Oberflächenenergien und Oberflächenspannungen von Flüssigkeiten (Methode des hängenden Tropfen)
- Hubtisch (z-Achse)
- Softwaregesteuerte Doppel-Dosiereinheit
- Zoom-Objektiv, Kamera (Auflösung 656x492 px)
Transmissionselektronenmikroskopie
Dieser Bereich umfasst Verfahren zur selbstorganisierten Nanostrukturierung und zur Charakterisierung von Oberflächen ebenso wie die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie für hochaufgelöste Abbildung und Analytik.
JEOL JEM-ARM200F: Cs-korrigiertes höchstauflösendes Feldemissions-TEM/STEM
- Beschleunigungsspannung: 30 - 200 kV
- Kalte Feldemissionsquelle
- Beleuchtungsseitiger Cs-Korrektor mit Aberrationskorrektur bis zur 5. Ordnung (CEOS ASCOR)
- TEM-Punktauflösung: 0,19 nm, Informationsgrenze: 0,11 nm
- STEM-Punktauflösung: 0,08 nm bei 200 kV, ≤ 0,20 nm bei 30 kV
- Energieauflösung ≤ 0,30 eV (FWHM ZLP)
- 4k x 4k CMOS-Kamera (Gatan OneView)
- 2k x 2k CCD-Kamera (Gatan UltraScan)
- STEM BF-, ABF-, DF-, und HAADF-Detektoren
- 8-fach segmentierter STEM-DF-Detektor für differenzielle Phasenkontrastabbildung
- Energiedispersives Röntgenspektroskopie-System mit SDD-Detektor (JEOL)
- Post-column Energiefilter für EELS, Dual-EELS und EFTEM (Gatan GIF Quantum ER)
- Einfachkipp- , Weitwinkel- und analytischer Doppelkipp- Probenhalter
Jeol JEM-2000FX
- Beschleunigungsspannung: 80 - 200 kV
- Thermionische Elektronenquelle (zur Zeit Wolfram)
- Punkt-Auflösung ~0,3 nm
- Probenhalter: Einfachkipp-Halter, 2 Proben, max. Kippung +/- 30°
- Energiedispersives Röntgenspektroskopie-System: EDAX mit Be-Fenster
- FastScan CCD-Kamera (TVIPS)
Jeol JSM-6300F SEM
- FEG-Emitter
- Beschleunigungsspannung: 0,2 - 30 kV
- Detektoren für Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen
- Point-Electronic-Rastersteuerung und Datenaufnahmeeinheit